Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE)
Equipamentos||Comitê Gestor || Regimento || Normas de utilização || Calendário || Pedidos para utilização
Equipamentos
Focused Ion Beam (FIB)
TESCAN AMBER
Electron source: Field Emisson
Working voltage: 100 V to 30 kV
EDS Detector: SSD
STEM
Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
JEOL JSM 7100F
Electron source: Field Emission
Working voltage: 100 V to 20 kV
EDS Detector: SDD
STEM
Microscopia Eletrônica de transmissão (MET)
JEOL JEM 2100F
Electron source: Field Emission
Working voltage: 80 kV and 200kV
EDS Detector: SDD
STEM
HAADF detector