User Tools

Site Tools


pedidos

Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE)


Equipamentos||Comitê Gestor || Regimento || Normas de utilização || Calendário || Pedidos para utilização


Importante!

Antes de submeter um projeto de utilização, ou fazer contato com um usuário sênior, deve-se verificar as características e condições das amostras:

Para análises de MEV:

1. Qual é tamanho das amostras? Existe limitação de tamanho das amostras por causa das dimensões da câmara.

2. A amostra é condutora ou isolante? Se for o caso isolante, há necessidade de metalizá-la previamente.

3. A amostra libera gases ou vapores, ou é muito porosa? Se este for o caso, não poderá ser analisada com o MEV.

4. A amostra é passível de dano ou modificação se submetida a alto vácuo? Se este for o caso, não poderá ser analisada.

5. Se a amostra libera facilmente material pulverulento não é possível de análise.

6. Qual o aumento pretendido? Se for inferior a 5 mil vezes, sugerimos a utilização de um MEV com fonte de elétrons a filamento.

Amostras para análise em MEV têm que ser:

  • Limpas
  • Secas
  • Condutoras

Para amostras de MET:

  • A sua amostra tem que ter espessura inferior a 100 nm, para permitir a passagem do feixe de elétrons.
  • A amostra tem que ser estável quando submetida ao feixe de elétrons com energia de 200 keV, em condições de ultra alto vácuo.
  • As dimensões das amostras devem ser compatíveis com o suporte de amostras do MET (i.e. diâmetro < 3 mm)
  • Idealmente, a microestrutura da mostra não deve ser afetada no processo de preparação das amostras.

Para usar os microscópios, click o link

submeter um projeto

pedidos.txt · Last modified: 2017/11/22 11:56 by admin