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lamar
Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE)
Equipamentos||Comitê Gestor || Regimento || Normas de utilização || Calendário || Pedidos para utilização
Equipamentos
Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
JEOL JSM 7100F
Electron source: Field Emission
Working voltage: 100 V to 30 kV
EDS Detector: SDD
STEM
Microscopia Eletrônica de transmissão (MET)
JEOL JEM 2100F
Electron source: Field Emission
Working voltage: 80 kV and 200kV
EDS Detector: SDD
STEM
HAADF detector
EELS
lamar.txt · Last modified: 2017/10/17 15:45 by admin
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