====== Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE) ====== ---- [[lamar|Equipamentos]]||[[comete|Comitê Gestor]] || [[redimento|Regimento]] || [[normas|Normas de utilização]] || [[calendario|Calendário]] || [[pedidos|Pedidos para utilização]] ---- ====== Importante! ====== **Antes de submeter um projeto de utilização, ou fazer contato com um usuário sênior, deve-se verificar as características e condições das amostras:** Para análises de MEV: 1. Qual é tamanho das amostras? Existe limitação de tamanho das amostras por causa das dimensões da câmara. 2. A amostra é condutora ou isolante? Se for o caso isolante, há necessidade de metalizá-la previamente. 3. A amostra libera gases ou vapores, ou é muito porosa? Se este for o caso, não poderá ser analisada com o MEV. 4. A amostra é passível de dano ou modificação se submetida a alto vácuo? Se este for o caso, não poderá ser analisada. 5. Se a amostra libera facilmente material pulverulento não é possível de análise. 6. Qual o aumento pretendido? Se for inferior a 5 mil vezes, sugerimos a utilização de um MEV com fonte de elétrons a filamento. Amostras para análise em MEV têm que ser: * Limpas * Secas * Condutoras Para amostras de MET: * A sua amostra tem que ter espessura inferior a 100 nm, para permitir a passagem do feixe de elétrons. * A amostra tem que ser estável quando submetida ao feixe de elétrons com energia de 200 keV, em condições de ultra alto vácuo. * As dimensões das amostras devem ser compatíveis com o suporte de amostras do MET (i.e. diâmetro < 3 mm) * Idealmente, a microestrutura da mostra não deve ser afetada no processo de preparação das amostras. **Para usar os microscópios, click o link** ** [[https://forms.gle/bqnNhF9bMJ5Xdr9T9|submeter um projeto]]**