====== Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE) ======
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[[lamar|Equipamentos]]||[[comete|Comitê Gestor]] || [[redimento|Regimento]] || [[normas|Normas de utilização]] || [[calendario|Calendário]] || [[pedidos|Pedidos para utilização]]
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====== Importante! ======
**Antes de submeter um projeto de utilização, ou fazer contato com um usuário sênior, deve-se verificar as características e condições das amostras:**
Para análises de MEV:
1. Qual é tamanho das amostras? Existe limitação de tamanho das amostras por causa das dimensões da câmara.
2. A amostra é condutora ou isolante? Se for o caso isolante, há necessidade de metalizá-la previamente.
3. A amostra libera gases ou vapores, ou é muito porosa? Se este for o caso, não poderá ser analisada com o MEV.
4. A amostra é passível de dano ou modificação se submetida a alto vácuo? Se este for o caso, não poderá ser analisada.
5. Se a amostra libera facilmente material pulverulento não é possível de análise.
6. Qual o aumento pretendido? Se for inferior a 5 mil vezes, sugerimos a utilização de um MEV com fonte de elétrons a filamento.
Amostras para análise em MEV têm que ser:
* Limpas
* Secas
* Condutoras
Para amostras de MET:
* A sua amostra tem que ter espessura inferior a 100 nm, para permitir a passagem do feixe de elétrons.
* A amostra tem que ser estável quando submetida ao feixe de elétrons com energia de 200 keV, em condições de ultra alto vácuo.
* As dimensões das amostras devem ser compatíveis com o suporte de amostras do MET (i.e. diâmetro < 3 mm)
* Idealmente, a microestrutura da mostra não deve ser afetada no processo de preparação das amostras.
**Para usar os microscópios, click o link**
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[[https://forms.gle/bqnNhF9bMJ5Xdr9T9|submeter um projeto]]**