====== Laboratório de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução (LaMAR/CAIPE) ======   

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[[lamar|Equipamentos]]||[[comete|Comitê Gestor]] || [[redimento|Regimento]] || [[normas|Normas de utilização]] || [[calendario|Calendário]] || [[pedidos|Pedidos para utilização]]
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==== Equipamentos  ====

<WRAP center round box 100%>

==== Focused Ion Beam (FIB) ====

{{:oie_yqyxuzldjoyu.jpg?400 |}} TESCAN AMBER

Electron source: Field Emisson 

Working voltage: 100 V to 30 kV

EDS Detector: SSD

STEM

</WRAP>

<WRAP center round box 100%>


==== Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) ====


{{:oie_8ztrjrf5xwkv.jpg?400 |}}JEOL JSM 7100F

Electron source: Field Emission 

Working voltage: 100 V to 20 kV

EDS Detector: SDD

STEM
 

</WRAP>


<WRAP center round box 100%>
  
==== Microscopia Eletrônica de transmissão (MET) ====


{{:oie_dgbl6ggftssc.jpg?400 |}} JEOL JEM 2100F 

Electron source: Field Emission 

Working voltage: 80 kV and 200kV 

EDS Detector: SDD 

STEM

HAADF detector




</WRAP>